X射線熒光測(cè)厚儀工作原理：通過高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)X光，初級(jí)X光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光被探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)計(jì)算出我們需要的結(jié)果。

　　X射線熒光測(cè)厚儀使用過程中的注意事項(xiàng)：

　　1．因該儀器是一種電子儀器，儀器在進(jìn)行測(cè)量之前要預(yù)熱。

　　2．因X射線熒光分析方法．是對(duì)光電子進(jìn)行大量累積統(tǒng)計(jì)的結(jié)果．因此測(cè)量時(shí)間不能太短。足夠的測(cè)量時(shí)間,盡量減小隨機(jī)誤差。

　　3．準(zhǔn)直器越小，檢測(cè)效率和統(tǒng)計(jì)平均的效果都將下降，測(cè)量程序中所用準(zhǔn)直器大小的選擇，應(yīng)與實(shí)際測(cè)量應(yīng)用時(shí)相一致。

　　4．因?yàn)槭艿娇捎煤穸葮?biāo)準(zhǔn)塊的限制，厚度測(cè)量示值誤差中所用的標(biāo)準(zhǔn)塊，可根據(jù)條件許可。

　　5．選擇一到五十標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行測(cè)量，選擇的基本原則是：鍍層與基體的材料應(yīng)與測(cè)量程序相一致，厚度的分布應(yīng)能覆蓋測(cè)量程序所用的范圍，當(dāng)厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的數(shù)量受限，應(yīng)盡量選擇與實(shí)際測(cè)量應(yīng)用相接近的厚度塊。

　　6．如果有必要．可以改變相關(guān)的測(cè)量條件再進(jìn)行重復(fù)性測(cè)量。