菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL測厚儀

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL測厚儀

菲希爾x射線測厚儀特點(diǎn)

菲希爾x射線測厚儀根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的最小測量點(diǎn)約0.1 mm；XUL最小測量點(diǎn)約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證的短測量時間的比例接收器

準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換

初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

用于光學(xué)觀察測量點(diǎn)的攝像頭

經(jīng)認(rèn)證的全面防護(hù)設(shè)計；

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL的特點(diǎn)介紹

1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。 

2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。 

3、能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化。 

4、畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）

5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 

6、對試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)

菲希爾x射線測厚儀X-ray

菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237菲希爾x-ray鍍層分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測試儀器。

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