菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL測厚儀

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL測厚儀

菲希爾x射線測厚儀特點

菲希爾x射線測厚儀根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器

準直器：固定或4個自動切換

初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

用于光學觀察測量點的攝像頭

經認證的全面防護設計；

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL的特點介紹

1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。 

2、頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。 

3、能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化。 

4、畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）

5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 

6、對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

菲希爾x射線測厚儀X-ray

菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237菲希爾x-ray鍍層分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測試儀器。

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