菲希爾鍍層測厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾鍍層測厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾涂層測厚儀特性：

使用準確性高的電解退鍍技術（庫侖法），測量多鍍層的厚度

圖形顯示的交互方式，易于操作

適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度

提供全面的附件產品供您選擇，可滿足特定需求

Couloscope CMS2 STEP菲希爾測厚儀應用：

金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

單層或多層的鍍層厚度測量

特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量

適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量

COULOSCOPE CMS2菲希爾庫倫法測厚儀

COULOSCOPE CMS2 Fischer測厚儀和COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾測厚儀根據庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度

COULOSCOPE CMS2 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。

無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統解決方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業,以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,*制造技術的驅動精益求精。

Fischer DUALSCOPE MP0涂層測厚儀技術參數

量 程：0～2000μm。

分辨率0.00um

精 度±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。

重復精度 ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。

測量曲率直徑

在精度范圍內，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；

（在允許誤差＜10%時，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）

測量面積直徑φ4mm（在允許誤差＜10%時，為φ2mm）

基體厚度鐵基0.2mm（誤差＜10%時）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時）。

重 量60g（不含電池

外形尺寸64mm×30m×85mm。

電 源兩節5號電池。