菲希爾X射線測厚儀Fischer廠家XDL

菲希爾X射線測厚儀Fischer廠家XDL

德國FISCHER鍍層測厚儀FISCHERSCOPE/XULM

德國FISCHER X射線熒光測試儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度(包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等)和進行材料分析.

菲希爾X射線測厚儀功能特點：

◆菲希爾X射線測厚儀用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等。

◆菲希爾X射線測厚儀通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.

◆Fischer X射線測厚儀配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點。

◆Fischer X射線測厚儀比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率。

◆Fischer X射線測厚儀從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。

◆底部C型開槽的大容量測量艙  。

菲希爾X射線測厚儀典型應用領域：

◆測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層

◆電子行業中接插件和觸點上的鍍層

◆裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS

◆電鍍鍍層，如大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe

◆珠寶和鐘表工業。

◆測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。